Wafer Auto OM Inspection (Basic)

全自動晶圓檢查機 (基本款)

可降低操作人員觸碰到晶圓,而造成晶圓髒污或受損的機率。

本機優點:

  • 台灣在地開發製造,可為您降低設備成本。
  • 機台尺寸小,可節省無塵室空間  【1250(W)*800(D)*1170(H)】。
  • 可任意站點做手動、自動轉換。
  • 可做簡易手動量測。
  • 具備巨觀檢查(Macro)與微觀檢查(Micro)。
  • NG點位可具重現性。
  • 可依需求調整光學系統。
  • 開放式架構,可隨時觀察機臺狀況。

 

* 本機為標準機型,需更多功能可參考本公司高階款晶圓檢查機,或做客製化諮詢。

 

設備類別

描述

 本機說明:

 

晶圓直徑(Wafer size)
  8吋晶圓 (可客製符合其他晶圓尺寸)

 

晶圓載入載出模組(Wafer load/unload module)
  • 使用 Open cassette 
  • 晶圓數片(Mapping)功能,可有效偵測有片、無片、斜片、凸片、疊片(無翹曲)

 

對準器模組(Aligner)
  • 自動對圓心,可依Notch或平邊做角度擺正。
  • 可為透明片或非透明片做微米等級的精準對位。

 

巨觀檢測 ( Macro Inspection ) 巨觀檢測 ( Macro Inspection )
  • 可依客戶需求選擇光源。
  • 可供人員目視做正面、背面、背面邊緣檢查。
  • 可手動調整搖桿,任意調整旋轉角度。也可設定檢查角度,進行自動旋轉調整角度。
  • 可做NG片紀錄。
  • 站點可依製程選擇使用。

 

微觀檢測 ( Micro Inspection ) 微觀檢測 ( Micro Inspection )
  • 可做簡易手動量測。
  • 可手動控制搖桿,移動載台至任意位置檢查。
  • 電動載台可設定多點檢查點位,並進行自動檢查。
  • 軟體可紀錄NG點位,並具重現性。
  • 站點可依製程選擇使用。
  • 控制元件
    PLC + HMI

     

    選配需求( Option )
    • 翹曲片處理(<10mm)
    • Wafer ID(OCR 限定Semi標準字型)

     

     

     

     

    相關設備

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