Wafer Auto Inspection OM (PRO)

全自動晶圓檢查機 (進階款)

降低操作人員觸碰到晶圓,而造成晶圓髒污或受損的機率。

本機優點:

  • 台灣在地開發製造,可降低設備成本。
  • 具備巨觀檢查(Macro)與微觀檢查(Micro)。
  • 可依照需求搭配不同的光學系統。
  • 檢測站點可切換自動/手動。
  • 可做簡易手動量測。
  • NG點位可具重現性。
  • 半開放式架構,可隨時觀察機臺狀況。

 

* 本機為進階型晶圓檢查機,需更多功能可進一步諮詢客製化。

 

 

 

設備類別

描述

 

 本機說明:

晶圓直徑(Wafer size)
12″ 晶圓,可選擇8″、12″共用loadport。(可客製符合其他晶圓尺寸)   

 

晶圓載入載出模組(Wafer load/unload module)
晶圓數片(Mapping)功能,可有效偵測有片、無片、錯片、凸片及疊片(晶圓無翹曲)

 

對準器模組(Aligner)
  • 可為透明片或非透明片做微米等級的精準對位。
  • 自動對圓心,可依Notch、十字mark、特徵,做角度擺正。

 

巨觀檢測 ( Macro Inspection ) 巨觀檢測 ( Macro Inspection )
  • 可依客戶需求選擇光源。
  • 可供人員目視做正面、背面、背面邊緣檢查。
  • 可手動調整搖桿,任意調整旋轉角度。也可設定檢查角度,進行自動旋轉調整角度。
  • 可做NG片紀錄。
  • 站點可依製程選擇使用。

 

微觀檢測 ( Micro Inspection ) 微觀檢測 ( Micro Inspection )
  • 可做簡易手動量測。
  • 可手動控制搖桿,移動載台至任意位置檢查。
  • 電動載台可設定多點檢查點位,並進行自動檢查。
  • 軟體可紀錄NG點位,並具重現性。
  • 站點可依製程選擇使用。

 

控制元件
PC BASE

 

選配需求( Option )
  • 量測軟體升級成自動量測
  • 軟體升級成AOI檢測
  • 晶圓翹曲片處理(<10mm)
  • 支援 Mapping file 功能
  • Wafer ID(OCR 限定Semi標準字型)
  • 讀取Barcode/RFID/2D code
  • 深度量測。
  • 晶圓厚度量測。
  • 跨境量測。
  • 光學尺。
  • 靜電解決方案。
  • 資訊傳輸系統(SECS/GEM)

 

 

 

 

 

相關設備